中华人民共和国

 

 

 

 

QCVN 123:2021/BTTTT

 

国家技术规范

关于短距离无线电设备的技术规范 40GHz到246GHz频段

 

国家技术规范

on Short Range Device (SRD) - 用于无线电设备

在40GHz到246GHz频率范围内

 

 

                                          

 

 

 

 

                                    

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

北京 - 2021

 

目录

 

1. 总则 5

1.1 调整范围 5

1.2 应用对象 5

1.3 引用文件 5

1.4 术语解释 6

1.5 符号 7

1.6 缩写 8

2. 技术规定 8

2.1 发射部分规定 9

2.1.1 输出RF功率 9

2.1.2 允许工作频段 9

2.1.3 带外辐射 10

2.1.4 假辐射 11

2.2 接收部分规定 13

2.2.1 不希望的辐射 13

3. 测试方法 13

3.1 测试规定 13

3.1.1 测试环境条件 13

3.1.2 测试样品选择 14

3.1.3 测试结果解释 14

3.1.4 110GHz以上频段测试 15

3.2 发射部分测试 15

3.2.1 输出RF功率测试 15

3.2.2 允许工作频段测试 16

3.2.3 带外辐射测试 17

3.2.4 假辐射测试 18

3.3 接收部分测试 19

4. 管理规定 20

5. 组织和个人责任 20

6. 执行组织 20

附件A（规定）辐射测量方法 21

附件B（规定）通用条件 24

附件C（规定）通用条件 33

附件D（规定）短距离无线电设备40GHz到246GHz频段HS编码规定 36

 

附件E（参考）57GHz到64GHz频段短距离无线电设备技术规定及测试方法 37

 

参考文献目录 42

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

国家技术规范

 

关于短距离无线电设备40GHz到246GHz频段的技术规范

国家技术规范
on Short Range Device (SRD) – Radio Equipment to be used
在40GHz到246GHz频率范围内

 

 

第一章 总则

1.1 范围

本规范适用于在40GHz到246GHz频段内工作的通用短距离无线电发射接收设备（SRD），包括无线电信号报警设备、无线遥控设备、无线遥测设备、通用数据传输设备等，在本规范表1中具体规定的各种情况：

- 具有独立天线或集成天线的无线输出端口；

- 使用任何调制方式；

- 固定设备、移动设备和手持设备。

表1 - 40GHz到246GHz频段短距离无线电设备使用的频段

本规范适用于具有附件D中规定的HS编码的短距离无线电设备产品和货物。

1.2 适用对象

本规范适用于在中国领土上从事生产、销售受本规范调整的短距离无线电设备的中国和外国组织和个人。

1.3 引用文件

ETSI TR 100 028 (V1.4.1) (所有部分): "电磁兼容性和无线电频谱事项(ERM); 移动无线电设备特性测量中的不确定度"。

CEPT/ERC建议74-01: "域外不需要的排放", 哈德克拉洛夫，加迪夫，2011年。

ITU-R SM.329-12 (09/2012): "域外不需要的排放, SM系列, 频谱管理"。

CISPR 16 (2006) (第1-1, 1-4和1-5部分): "无线电干扰和抗扰度测量设备和方法规范"。

 

ETSI TR 102 273 (V1.2.1) (所有部分): "电磁兼容性和无线电频谱事项(ERM); 改进的辐射测量方法(使用测试场地)及其相应测量不确定度的评估"。

ITU-T O.153建议: "低于主速率下的误码性能测量的基本参数"。

ETSI TS 103 052: "电磁兼容性和无线电频谱事项(ERM); 辐射测量方法和高达100GHz的测试场地的一般安排"。

1.4 术语解释

1.4.1 警报 (alarm)

使用无线电信息指示远距离位置的状态报警。

1.4.2 人工天线 (artificial antenna)

一个不辐射的假负载，其标称阻抗等于待测设备的高频输出阻抗。该阻抗值由设备制造商规定。

1.4.3 分配频段 (assigned frequency band)

设备被允许工作的频段，以实现设备设计的所有功能。

1.4.4 专用天线 (dedicated antenna)

可拆卸并与无线电设备一起测量的天线，作为设备不可或缺的一部分设计。

1.4.5 直接频谱展开 （直接序列扩频）

从所需传输的数据与用于直接调制载波的固定码序列相结合而获得的产品，例如通过相移实现。

注：编码率确定了占用带宽。

1.4.6. 环境条件 （环境概况）

设备必须遵守本标准范围内的工作环境条件。

1.4.7. 固定设备 （固定站）

预计在某一位置固定使用的设备。

1.4.8. 跳频扩频 （频率跳变扩频）

在这种扩频技术中，发射信号依次占据预先设定的时间间隔内的不同频率，每个频率占据一个特定的时间段。

注：发射机和接收机使用相同的跳频模式。跳频位置的数量和每个位置的带宽决定了占用带宽。

1.4.9. 集成天线 （集成天线）

固定安装于设备上并作为设备不可分割部分的天线。

1.4.10. 移动设备 （移动站）

安装在移动载体上或用作移动站的设备。

1.4.11. 必要带宽 （必要带宽）

发射频带宽度，足以按照规定要求的速度和质量传输信息。

注：必要带宽包括相对于指定频带的频率容差部分。

1.4.12. 占用带宽 （占用带宽）

是指在该频带内平均发射功率低于该频带下限和上限0.5%的频带宽度。

注：上述值对应于峰值发射功率的-23dBc水平。

1.4.13. 工作频率 （操作频率）

设备的工作标称频率，被视为中心工作频率。

注：设备可能在多个不同的频带上工作。

1.4.14. 工作频率范围 （操作频率范围）

设备可以在其中通过机器调节、切换或重新编程来调整频率的频率范围。

1.4.15. 手持设备 （便携站）

可以随身携带并在移动时使用的设备。

1.4.16. 功率谱密度 （功率谱密度）

无线通信中使用的功率与带宽的比例。

注：功率谱密度的单位是dBm/Hz或相对于所用带宽的dBm功率单位。如果使用频谱分析仪进行测量，则测量带宽等于RBW。

1.4.17. 辐射测量 （辐射测量）

与辐射场相关的测量。

1.4.18. 扩频 （扩频）

将发射信号的能量分散到较宽带宽的技术。

1.4.19. 超低功耗设备 低 （超低功耗设备）

使用传输功率包络低于接收机和发射机在空闲/待机模式下的限制值的设备，如CEPT/ERC建议书74-01表5所示。

1.4.20. 不希望的发射 （不希望的发射）

在必要带宽之外的一个或多个频率上的发射，其强度可以降低而不影响信息传输。

注：不希望的发射包括谐波发射、寄生发射、调制穿透成分和频率转换成分。

1.5. 符号

BandWidth

第二章 技术要求

本标准的技术要求适用于制造商公布的设备工作环境。设备在公布的工作环境条件下工作时，必须符合本标准的所有技术要求。

2.1. 发射部分的规定

2.1.1. 射频输出功率

| 2.1.2 呼叫建立失败率

射频输出功率是指在整个数据包传输过程中等效全向辐射功率（e.i.r.p.）的平均值。对于执行功率控制的设备，平均e.i.r.p.值是在整个传输周期中发射机功率控制序列中的最高功率值。

2.1.1.2. 限值

射频输出功率的最大值对应于系统在制造商公布的最高功率级别下运行的情况。对于智能天线和定向天线，此限值对应于配置为达到最高e.i.r.p.的情况。

宽带工作模式下的射频输出功率限值不得超过下表中的规定值。

发电运行最小持续时间 2 - 射频输出功率限值

2.1.1.3. 测量方法

测量方法见第3.2.1节。

2.1.2. 允许的工作频率范围

|- 模拟呼叫：至少进行3,000次模拟呼叫，分布于不同的测试条件：室内测试（至少1,000次）；固定位置室外测试（至少1,000次）；移动室外测试（至少1,000次）。对于有两个服务区的企业服务提供商，模拟呼叫的数量分配如表1所示。对于每种测试条件，应在一天中的不同时间，在服务区范围内进行测试；来自同一主叫用户的连续模拟呼叫之间的间隔不少于30秒。测试位置的要求见附录A。

允许的工作频率范围是指设备依据其工作的频率范围。制造商必须公布允许的工作频率范围。

记作f_L 为最低工作频率，记作f_H 为最高工作频率。如果设备可以在不同模式下运行并在不同的频段上工作，则这些频率必须针对每个模式和每个频段进行记录。

2.1.2.2. 限值

设备的频率范围从最低频率（f_L）到最高频率（f_H），由功率谱包络线限定。在允许调整或选择不同工作频率的设备中，功率谱包络线在分配的频带内占据不同位置。该频率范围由最低频率f_L 和最高频率f_H确定，通过将设备从最低工作频率调整到最高工作频率来确定。

占用带宽（相当于期望发射功率的99％）和所需带宽必须位于已分配的频带内。

设备可工作的频率范围必须位于本标准表1规定的频段内。

2.1.2.3. 测量方法

测量方法规定在3.2.2中。

2.1.3. 带外辐射

根据CEPT/ERC 74-01建议和ITU-R SM.329-12建议，带外辐射区域与假信号区域之间的界限是中心发射频率的±250％带宽。

2.1.3.1. 定义

带外辐射是指超出必要带宽的一个或多个频率上的辐射，这是调制过程的结果，但不包括假信号。

带外辐射基于正常操作条件下的功率谱密度（e.i.r.p.）平均值测量确定。

f_H 和f_L 的测量结果用于确定设备的占用带宽。

占用带宽值（f_H - f_L）用于确定带外辐射区域和假信号区域。

2.1.3.2. 限值

带外辐射区域和假信号区域的边缘值取决于EUT的占用带宽。

边缘值按以下方式确定：

根据有权机关批准的项目总投资和融资结构确定；₁ = 中心OBW频率[GHz] - (2.5 * (f_H - f_L))

根据有权机关批准的项目总投资和融资结构确定；₂ = 中心OBW频率[GHz] + (2.5 * (f_H - f_L))

其中，中心OBW频率是信号的中心频率。

此计算用于确定带外辐射区域和假信号区域的边界，它会大于或小于允许工作频段内的最大值（见图1）。

 

 

图1 - OOB/假信号随OBW变化的总体依赖性

还可以通过以下方式计算F₁/F₂ ：如果认为F₁/F₂ 是理论上的下方或上方频率，则它们的值基于OBW的最大值的250％（见表2）。因此，OOB/假信号区域之间的边缘频率将在表3中固定（通常F₁/F₂ 计算为信号中心频率的250％）。

发电运行最小持续时间 3 - 限值t节 数值F₁ 和F₂，基于理论 OBW值 最大值
EUT

在带外区域（F₁ ≤ f < f_L 和f_H < f ≤ F₂）中的发射功率谱密度（RMS值）不得超过表4和表5中的规定值。

表4 - 带外辐射区域

 

表5 - 带外辐射限值

2.1.3.3. 测量方法

测量方法规定在3.2.3中。

2.1.4. 假信号

2.1.4.1. 定义

假信号是在超出必要带宽的一个或多个频率上的辐射，其值可以降低而不影响信息传输。假信号包括谐波辐射、寄生辐射、调制穿透成分和频率转换成分，但不包括带外辐射。

假信号作为正常操作条件下的功率谱密度进行测量。根据CEPT/ERC 74-01建议和ITU-R SM.329-12建议，假信号区域与带外辐射区域之间的边界是中心发射频率的±250％带宽。

在假信号区域内评估的频率范围是：

- f < F₁ [GHz]

和

- f > F₂ [GHz]。

如2.1.3.2所述确定这些频率值，最小值和最大值如表3所示。

2.1.4.2. 限值

假信号的功率不得超过表6中的规定值。

                                                      表 6 - 假信号限值

 

根据CEPT/ERC 74-01建议，假信号测量到基频的二次谐波（在这种情况下，最高测量频率为90 GHz）。

测量带宽规定如下：

• 30 MHz到1 GHz之间为100 kHz；

• 1 GHz以上为1 MHz。

2.1.4.3. 测量方法

测量方法规定在3.2.4中。

2.2. 接收部分的规定

2.2.1. 不希望的发射

2.2.1.1. 定义

接收机的不希望的发射是指设备和天线在任何频率上的辐射。不希望的发射强度应通过其有效辐射功率进行测量，包括：外壳辐射和集成设备或专用天线。

2.2.1.2. 限值

不希望的发射功率：

- 在30 MHz到1 GHz的频率范围内不得超过2 nW（-57 dBm）；

- 在1 GHz以上的频率范围内不得超过20 nW（-47 dBm，参考带宽为1 MHz）。

上限频率为EUT二次谐波或300GHz，取较低值。

测量到的任何不需要的辐射必须记录在测量结果中。

2.2.1.3. 测试方法

测试方法规定在3.3中。

3.测量方法

 

3.1. 测试规定

3.1.1. 测试环境条件

按本标准规定的测试必须在测试环境范围界限内进行。

3.1.1.1. 正常测试条件

3.1.1.1.1. 温度和湿度

测试所需的正常温度和湿度条件应保持在以下范围内：

- 温度：+15 ⁰℃ 至 +35 ⁰℃；

- 湿度：20% 至 75%。

3.1.1.1.2. 正常测试电源

a) 直流电源

连接到被测设备上的电源电压必须是额定电压。在此标准中，额定电压是指制造商公布的电压，或者设备设计运行的电压。

对于交流电源电压测试，其频率应在49Hz至51Hz之间。

b) 其他电源

如果设备使用其他类型的电源或电池（原电池或二次电池），则测试电源电压应由制造商公布并被测试实验室接受。这些值应记录在测试结果中。

3.1.1.2. 测试电源的一般要求

设备必须使用适当的测试电源进行测试，如3.1.1.2.1或3.1.1.2.2中规定。如果设备可以使用外部或内部电源，则首先使用外部电源进行测试，然后通过使用内部电源重复测试。

3.1.1.2.1. 外部测试电源

在整个测试过程中，设备的电源必须由能够提供正常测试电压的外部测试电源替代。外部测试电源的内阻必须足够低，并且受控以不影响测试结果。在此测试中，外部测试电源的电压必须在设备输入端测量。外部测试电源必须单独隔离并按电池极性连接到设备上。对于辐射测试，外部电源必须布置成对测试影响最小。

在整个测试过程中，电源电压偏差必须在每个测试点的±1%以内。减小电压偏差将减少测试误差。

3.1.1.2.2. 内部测试电源

对于手持设备带有内置天线的辐射测试，设备必须使用完全充电的电池。电池类型应根据制造商建议提供。如果使用内部电源，在测试后电源电压偏差必须在每个测试点的±5%以内。如果不满足此要求，该值必须记录在测试结果中。

如果测试位置固定，外部电源可以替代制造商提供的或建议使用的内部电池。此信息必须记录在测试结果中。

3.1.2. 测试样品的选择

对于单个设备，测试必须包括辅助设备。如果设备具有某些可选功能但不影响RF高频参数，则只需测试一种配置，使其包含所有最复杂的特性。

3.1.3. 解释测试结果

对于本标准描述的测试，解释测试结果的规定如下：

1) 将测量值与相应限制进行比较，以确定设备是否符合标准要求；

2) 每个测量参数的不确定度值必须在测试结果中表示；

3) 每次测量记录的不确定度值必须等于或小于表7中的规定值。

根据本标准的测试方法，不确定度必须按照TR 100 028指南计算，并对应扩展因子（覆盖系数）k=1.96或k=2（分别对应实际测量误差分布为正态分布时的95%和95.45%置信水平）。

计算不确定度所用的具体扩展因子必须明确记录。

表7 - 最大不确定度

3.1.4. 超过110GHz频段的测试

对于超过110GHz的测试，标准测试设备仅在约110GHz频段可用，相关灵敏度与带宽（BW）和探测器有关。对于高于110GHz的频率，灵敏度会下降。

当前市场上可获得的校准能力仅限于约110GHz频段。因此，不同实验室在超过110GHz频段的测试结果可能无法完全比较，因为测试设备未在校准所需的工作频段内校准。

3.2. 发射部分的测试

3.2.1. 测试RF输出功率

射频输出功率，根据3.1.1所述条件进行测量，使用附录B的B.2部分描述的位置进行测量，并记录在测量方法中。所有必须测试的设备应将中心频率设置在确定的频段内。

第一步：

a) 使用适当的衰减器，测量设备应与适当的二极管分路器或等效设备连接。二极管分路器的输出应连接到振荡器的Y通道或等效的功率测量设备。

b) 二极管分路器和示波器的组合应能够显示信号输出的工作周期。

c) 观察到的工作周期（Tx_on/(Tx_on + Tx_off)）表示为x（0 < x ≤ 1），并应在测量结果中记录。对于测量目的，设备必须以大于或等于0.1的工作周期运行。

||| 第二步：

a) 发射机在最大功率水平下工作的射频输出功率应使用具有积分系数大于或等于发射机重复时间5倍的频谱分析仪进行测量。使用RMS平均分路模式。观察到的值记录为“A”（dBm）。

b) 根据上述测得的最大功率水平A（dBm）和观察到的工作周期x，EIRP值按以下公式计算。

c) PD = A + 10 × log₁₀ (1/x)。

3.2.2. 测量允许操作的频带

3.2.2.1. 测量方法

测量方法应在测量结果中记录。

对于使用FHSS调制的设备，测量方法见3.2.2.2。

应分别对发射频带使用以下测量方法，并将测量值记录在测量结果中。如适用，在B.1和B.1.1附录B的规定下使用测量序列进行测量。

发射机的功率水平应设置为最大功率水平。

测量程序如下：

a) 将频谱分析仪设置为最小扫描步长为50的平均显示模式。

b) 选择待测设备的最低工作频率，并激活发射机的调制模式。设备的射频发射应在频谱分析仪上显示。

c) 使用频谱分析仪的标记功能，找到比最低工作频率低的频率，在该频率处功率频谱密度下降到低于2.1.2中规定的值。此频率应在测量结果中记录。

d) 选择待测设备的最高工作频率，并找到功率频谱密度下降到低于2.1.2中规定值的最高频率。此频率应在测量结果中记录。

e) 步骤c)和d)中测得的频率之差是工作频带。此值应在测量结果中记录。

对制造商公布的每个频带重复此测量。

3.2.3.2. 使用FHSS调制设备的测量方法

应分别对发射频带使用以下测量方法，并将测量值记录在测量结果中。

在整个测量过程中，应按照附录B的B.1规定使用测量序列。发射机的功率水平应设置为额定功率水平。

测量程序如下：

a) 将频谱分析仪设置为最小扫描步长为50的平均显示模式。

b) 选择待测设备的最低跳频频率，并激活发射机的调制模式。

c) 找到比最低工作频率低的频率，在该频率处功率频谱密度下降到低于2.1.2中规定的值。此频率应在测量结果中记录。

d) 选择待测设备的最高跳频频率，并找到功率频谱密度下降到低于2.1.2中规定值的最高频率。此频率应在测量结果中记录。

e) 步骤c)和d)中测得的频率之差是设备的工作频带。此值应在测量结果中记录。

对制造商公布的每个频带重复此测量。

3.2.3. 测量带外辐射

测量接收机可以是一个电压表或频谱分析仪。接收机的带宽应按照CISPR 16的规定设置。为了达到所需的灵敏度，可能需要使用更窄的测量带宽，此值应在测量结果中记录。

频谱分析仪的设置如下：

- 分辨带宽（RBW）：参见表8。

- 选通带宽（VBW）≥ 3 MHz。

- 检波模式（Detector Mode）：RMS/Hz在至少一个信号周期（最多100 ms）的时间内取平均值。

频谱分析仪中测得的频谱应在相对幅度范围35 dB内记录。当平均功率频谱密度低于-40 dBm/MHz（e.i.r.p.）时，不需要进行测量。

测量接收机的带宽必须小于表8中指定的最大值。

表8 - 测量带宽

 

测量位置的选择应符合附录A的要求，使用完整的频带满足具体要求。测量方法如附录C所述。接收机的带宽应设置为合适的值，以便准确测量不需要的辐射。此带宽应在测量结果中记录。

对于高于40 GHz的频率，应使用如图2所示的下变频器。内部振荡器用于降低接收到的信号频率，相位噪声优于-80 dBc/Hz，偏移100 kHz。内部振荡器的频率应选择使得经过下变频后的接收到的信号位于频谱分析仪的操作频段内，同时保持足够的IF带宽以捕获信号的完整频谱。EUT的e.i.r.p.值应被测量并记录。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

图2 - 高于40 GHz频段带外辐射测量配置图

正常调制模式下的信号带外辐射应在邻近表1中规定的操作频带的频带上进行测量并记录，直到辐射水平比最大辐射水平低50 dB为止。

3.2.4. 测量假辐射

本测量方法适用于内置天线的发射机。

a) 本测量应使用完整的确定频带。

天线测量初始时应垂直极化并连接到接收机，通过适当的滤波器以避免在必要时接收机过载。接收机的带宽应调整至其接收灵敏度比表3中2.1.3.2节所指出的非预期发射限值低6dB。此带宽应在测量结果中记录。

为了测量低于二次谐波频率的假发射，需要使用中心频率为载波频率的窄带滤波器（“Q”陷波滤波器），信号衰减至少为30dB。

测量设备必须放置在标准位置的支架上，并置于无调制模式（参见附录B的B.1）。如果无法停止调制模式，则必须在测量结果中记录该情况。

b) 接收机必须在从30MHz到载波频率2.2倍的范围内进行调整，但不包括发射机设计工作频段内的频道。每个检测到的非预期发射的频率都应记录下来。如果测量点受到外部干扰，可以通过扩大屏幕和减少发射机与测量天线之间的距离来找到最佳值。

c) 在每个出现发射的频率下，接收机必须进行调整，并将测量天线在其规定高度范围内上下移动，直到在接收机上显示出最大信号强度为止。

d) 发射机应围绕垂直轴旋转360度，以最大化接收到的信号。

e) 测量天线应在规定高度范围内再次上下移动，直至达到最大接收水平。此水平应在测量结果中记录。

f) 在每个出现发射的频率下，信号发生器、替代天线和接收机必须进行调整。测量天线应在规定高度范围内上下移动，直至在接收机上显示出最大信号强度。信号发生器的输出电平，使其在接收机上的信号强度与e)中的相同，应在测量结果中记录。经过替代天线增益校正和信号发生器与替代天线之间电缆损耗的校正后，这是该频率下的非预期发射。

g) 每个检测到的发射的频率和电平以及接收机的带宽应在测量结果中记录。

h) 应重复c)到g)步骤，使测量天线水平极化。

i) 如果使用功率调节功能，应重复从c)到h)步骤，以最低功率水平进行测量。

j) 如果有空闲模式选项，应重复c)到h)步骤，使发射机处于空闲模式。

频谱分析仪的灵敏度应在最小背景噪声6dB以下，参考表5的规定。为了提高接收机的灵敏度，可以缩小测量带宽或缩短测量距离。如果不能这样做，测量中的背景噪声应在测量结果中记录。

根据CEPT/ERC 74-01建议第3条，假发射限值适用于9kHz到300GHz的频率范围。然而，根据具体情况，假发射测量的频率范围可能被限制，但仍需确保满足这些限值。详情请参阅CEPT/ERC 74-01建议第3条。

注：由于缺乏参考文献，对高于某些频率的测量不确定度可能无法确定。此外，简化测量技术以节省时间和成本，同时确保满足要求，也是可行的。

3.3. 接收部分的测量

本测量方法适用于内置天线的发射机。

a) 本测量应使用所有指定测量频率范围的位置。

初始测量天线应垂直极化并连接到接收机，通过适当的滤波器以避免在必要时接收机过载。接收机的带宽应调整至其接收灵敏度至少比3.2.3条规定的非预期发射限值低6dB。此带宽应在测量结果中记录。

测量设备必须放置在标准位置的支架上。

 b) 接收机必须在从30MHz到载波频率2.2倍的范围内进行调整。每个检测到的非预期发射的频率都应记录下来。如果测量点受到外部干扰，可以通过扩大屏幕和减少发射机与测量天线之间的距离来找到最佳值。

 c) 在每个出现成分的频率下，接收机必须进行调整，并将测量天线在其规定高度范围内上下移动，直到在接收机上显示出最大信号强度为止。

d) 接收机应围绕垂直轴旋转360度，以最大化接收到的信号。

e) 测量天线应在规定高度范围内再次上下移动，直至达到最大接收水平。此水平应在测量结果中记录。

f) 在每个检测到成分的频率下，信号发生器、替代天线和接收机必须进行调整。测量天线应在规定高度范围内上下移动，直至在接收机上显示出最大信号强度。信号发生器的输出电平，使其在接收机上的信号强度与e)中的相同，应在测量结果中记录。经过替代天线增益校正和信号发生器与替代天线之间电缆损耗的校正后，这是该频率下的非预期发射。

g) 每个检测到的发射的频率和电平以及接收机的带宽应在测量结果中记录。

h) 应重复c)到g)步骤，使测量天线水平极化。

根据CEPT/ERC 74-01建议第3条，此处考虑的无线设备的假发射限值适用于300GHz以下的频率范围。然而，仅出于实际测量目的，假发射测量的频率范围可能被限制。详情请参阅CEPT/ERC 74-01建议第3条。

4. 管理规定

4.1. 短距离无线通用设备，属于本标准第1.1条规定范围内的，必须遵守本标准的规定。

4.2. 对于本标准技术要求的测量检验，以进行符合性声明和公告，应按照现行规定执行。相关组织和个人可以使用由指定国内实验室或认可国外实验室进行的测量/测试结果，或者符合ISO/IEC 17025标准的认可国内外实验室的测量/测试结果，或者制造商的测量/测试结果。

 

第五章 组织和个人的责任

相关组织和个人有责任执行本标准适用范围内设备的符合性声明和公告，并接受国家管理部门的检查。

第六章 实施组织

6.1. 电信局、无线电频率管理局及各通信管理局负责组织实施并管理本标准适用范围内的设备。

6.2. 若本标准中的规定发生变化、补充或被替代，则按新发布的文件执行。

6.3. 在实施本标准过程中，如遇问题或困难，相关组织和个人应书面反映至工业和信息化部（科技司）以获得指导和解决。

附录A

产品名称、商品描述依据QCVN

辐射测量

 

A.1 替代测量

替代测量可以在不保证测量位置合适的情况下进行，因为特定频率下的位置误差是恒定的，可以通过替代测量来补偿。测量精度主要取决于RF源参数的准确性和替代天线增益值的准确性。

A.1.1 替代测量原理

使用替代测量评估辐射功率时，可以获得峰值功率值。

使用“位置测量误差比较”方法会降低不确定度。该方法的缺点在于增加了测量时间，因为需要为每个EUT确定多个参数。

图A.1 描述了“位置测量误差比较”。图A.1 包括：一个无吸收损耗参数的天线（1），提供足够宽的角度，有一个可调高度的支架（2），一根连接天线的电缆（3），以及一个显示装置，即接收机或频谱分析仪或功率计（4）。
图A.1 - 替代测量的第一步

 

在替代测量的第一步中，确定EUT的最大发射水平。此值没有单位，不代表实际测量值，而是提供一个参考值。

 

替代测量第二步的测量位置包括一个可变频率和功率的未调制发射器，其功率值可通过校准或与已校准的功率计比较得出（1），一个50Ω的电缆，具有适当的衰减指标（2），一个用于连接天线的衰减器，包含实际阻抗（3），一个支持天线且不影响测试结果的支架（4），以及一个到1GHz的标准双极天线或具有等效增益的校准天线（5）。

图A.2 - 替代测量的第二步

 

 

 

对于测量频率，在第二步中，发射器发出与第一步中指数值对应的功率水平。

A.2 预替代测量

 

预替代测量是一种简化的流程，不可改变替代方式。它仅在证明测量位置适合特定测试频率范围（30MHz到100GHz）时可行。验证可以通过NSA或S VSWR方法完成。

这种验证在非户外测试位置（OATS）之外的位置难以实现，因金属屏蔽板的共振效应结合无线电波吸收材料的影响，这种情况比OATS多出五个反射面。_{参见TR 102 273-2条款5。}即使有足够的频率步骤，也需要在这些频率之间进行内插，从而增加不确定度。

A.2.1 基于测量位置衰减的辐射功率测量原理

预替代测量可以评估峰值辐射功率和其他类型的辐射功率。

由于测量位置和测量设备的影响，这种方法会增加不确定度，这种增加相当于CISPR 16中的场强测量。为了使测量结果接近阈值，需要通过替代测量重新评估。

为了确定测量位置的衰减，需要一个符合CISPR 16-1-4要求的测量位置和一个RF源。该源包括一个到1GHz的标准双极天线或具有等效增益的校准天线（1），一个不影响测试结果的天线支架（2），一个经过校准并与天线适应系数匹配的衰减器（3），包括正电阻，一个具有适当电缆衰减指标的50Ω电缆（4），以及一个可变频率和功率的未调制发射器，其功率值可通过校准或与已校准的功率计比较得出（5）。

此外还需要功率测量设备，包括：一个具有明确增益参数的天线（6），一个可调高度的支架（7），一个具有明确衰减指标的50Ω电缆（8），以及一个已校准的接收机（9）。

为了确定测量位置的损耗，需要一个符合CISPR 16-1-4要求的测量参考点和一个射频源。该源包括一个标准双极天线，频率不超过1GHz或一个等效定向增益已校准的天线（1），一个不影响测试结果的天线支架（2），一个经过校准的匹配网络（3）并适合天线的适应系数，包括正电阻、具有相应损耗指标的50Ω电缆（4）以及一个可调频功率的非调制发射机，其功率值可通过校准或与已校准的功率计进行比较来评估（5）。

此外，还需要以下功率测量设备：具有明确增益参数的天线（6），可调节高度的支架（7），具有明确损耗指标的50Ω电缆（8）以及已校准的接收机（9）。

天线（1）应放置在尽可能远的距离，在EUT替换前的高度上，基于测量参数。需要注意的是，两个天线的极化必须相同。预先产生的辐射功率在射频源输出端产生。测量天线将调整到高度，在该高度下接收机测得的功率指数最大（9）。此功率将被记录下来。发射功率与接收功率之间的分贝差即为测量点的损耗。测量点的损耗确定必须在整个评估频率范围内以完整的频率步长进行，并且这些值必须被记录下来。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

图A.3 - 基于测量点损耗的测量位置示例

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

图A.4 - 基于测量点损耗的测量位置示例

在实际测量中，辐射功率由测量值和测量点损耗按单位确定。

地面移动无线设备及地面无线电中继设备的HS编码规定

产品名称、商品描述依据QCVN

一般条件

B.1. 测量信号和调制过程

测量调制信号是用于调制载波信号的信号，取决于需要测试的设备类型和要求的测量。测量调制信号仅适用于具有外部调制接口的设备。对于没有外部调制接口的设备，则使用设备内部调制进行测量。

使用的测量信号具有以下特点：

- 代表正常工作状态。

- 占用最大的射频带宽。

对于非连续发射设备，测量信号必须：

- 每个传输路径产生的射频信号相同。

- 发射信号的过程必须随时间稳定。

- 发射信号序列必须准确重复。

测量结果中必须记录测量信号的详细信息。

如果没有规定外部测量调制，则使用设备内部调制进行测量。

B.1.1. 数据传输测量信号

对于具有外部数据调制接口的设备，测量信号必须如下：

D-M2：测试信号是由至少511位的伪随机二进制序列组成的连续重复序列，符合ITU-T O.153建议。如果信号序列不是连续重复的，则必须在测量结果中明确说明实际应用的方法。

D-M3：当使用选择性消息并带有设备中的编码/解码器时，设备供应商和测试实验室之间必须就测试信号达成一致。这种测量信号可以格式化，并可能包含错误检测和纠正代码。

B.1.2. 产品信息

设备制造商必须公布以下参数，以便执行测量并公布符合标准的结果：

a) 工作频率信道：是指EUT能够调节的中心频率。如果设备支持多种子信道（例如，允许不同信道宽度的操作），则必须公布这些频率信道。

b) EUT使用的调制类型。

c) EUT使用的接入方法。

d) 设备使用的集成天线描述以及防止用户连接其他天线的措施。

B.1.3. 跳频设备的测量

测量应在最高跳频频率和最低跳频频率±20ppm的范围内进行。对于特殊跳频设备，需根据上述条件进行三次不同的测量，具体如下：

a) 跳频序列被阻断，设备在上述两个频道中分别进行测量。

b) 跳频序列正在运行，设备在上述两个跳频频道中进行测量，频道顺序访问，每次测量的访问次数相等。

c) 跳频序列正常运行，设备在制造商公布的全部跳频频道中进行测量。

B.2. 测试区域和辐射测量

B.2.1. 测试组合箱

B.2.1.1. 要求

无线设备在相关频率范围内的测试组合箱，它允许EUT基本支持，与一个喇叭形导波天线Rx一起使用，用于测量传输能量，在物理上与EUT或已校准Tx天线固定位置的关系。测试组合箱必须设计用于反射消除环境和远场区域测量，即距离大于2d/l，其中d是EUT天线的最大开口尺寸。²测试组合箱必须结合至少一个射频接口、一个与EUT电连接的装置和一个定位EUT位置的装置。该装置的稳定性必须在整个测量过程中保持，并且适合反射消除室，通常是恒温室。与射频组合装置相连的电路不得包含任何活动电子元件或非线性组件。

只有在确认测试组合箱不会影响EUT操作后，EUT才能完全准备好进行测量。

在准备阶段，EUT必须与测试组合箱连接，使得输出功率最大化。天线的方向将被输入到EUT的极化数据中。

此外，测试组合箱还必须提供一个外部电源接口。

测试组合箱必须由设备制造商提供，并附有详细的说明书，这些说明书将通过认可的测试实验室进行评估和选择。

测试组合箱的操作特性必须由认可的测试实验室测量和选择。它具有以下适当的和基本的参数：

- 喇叭形导波管增益不超过20dB；

- 发射天线和接收天线之间的最小距离必须确保在实际条件下相互作用（距离大于2d/l），其中d是EUT天线的最大开口尺寸）。

注释1：关于测量不确定度和校准程序的详细信息在TR 102 273-6标准的第5和第6条中进行了描述。²/l)，其中d是EUT天线口面的最大尺寸）。

注1：关于测量不确定度和校验程序的详细信息在TR 102 273-6标准的第5和第6条中描述。

注释2：在本标准规定的频段内，必须仔细考虑远场测量条件。在波导端口处进行测量时，电压驻波比（VSWR）不得超过1.5。

- 当测量装置置于全反射暗室或温度控制暗室内时，其性能不应受到室内人员或物体接触的影响。在更换EUT并将其移除后，可以重复进行测量；

- 测量装置的性能应在报告中规定的限值内保持不变，即使测量条件在3.1.1.2和3.1.1.3所述范围内发生变化。测量装置的特性和校准情况应反映在校准报告中。

B.2.1.2. 校准

测量装置的校准建立了测量装置输出与EUT传输功率（如天线位置处的采样功率）之间的关系。这可以通过使用增益不超过20dB的喇叭天线来实现，该天线由外部信号源提供，在此位置EUT将确定随温度和频率变化的功率值。

测量装置的校准必须由每个EUT制造商或认可的测试实验室执行。这些结果必须由认可的测试实验室通过。

校准必须在EUT公布的极化模式下，在工作频带内至少进行三次。

 

图B.1 - 测量装置示例

有关测量装置至100GHz的使用、期限和性能限制的更多详细信息，请参见TS 103 502。

B.2.2. 测试位置及一般布局

B.2.2.1. 室外测试位置（OATS）

室外测试位置包括一个一端旋转台和另一端可调高度的天线，两者均放置在一个理想情况下为良好导电且无限延伸的地面上。实际上，可以创建良好的导电地面，但无法创建无限大的地面。图B.2描述了一个典型的室外测试位置。

 

 

 

         

图B.2 - 典型的室外测试位置。

地面产生所需的反射信号，因此接收天线接收到的是直接传输信号和反射信号的总和。对于每一种发射天线（或EUT）和接收天线相对于地面的高度，这两个信号之间的相位差会产生一个唯一的接收水平。

实际上，直线天线具有可变高度，因此测试天线的高度被优化以获得最佳信号，并结合旋转台来生成方位角。

在室外测试位置可以进行绝对和相对测量。在绝对测量的情况下，为了使测量位置得到认可，需要在OATS位置进行校准。性能比较被视为理论上的理想位置，接受与否基于差异是否超过预先设定的限值。

B.2.2.2. 其他测试位置

下面描述的测试位置配备了吸收材料以减少反射。吸收材料的能力提供了频率上限和下限。对于在这些测试位置使用的高频，必须检查反射损耗和测试室内的共振。

B.2.2.3. 带地面的全反射测试室

带地面的全反射测试室是一个完全屏蔽的测试室，其中墙壁和天花板的内表面覆盖有RF吸波材料层，通常是泡沫聚氨酯锥形层。测试室的地面是由未包覆的金属制成的平面。通常，测试室在一端有一个天线塔，在另一端有一个旋转台。图B.3描述了一个典型的带地面的全反射测试室。

 

    

图B.3 - 典型的带地面的全反射测试室

这种类型的测试室试图模拟室外测试位置（OATS），其主要特征是有一个理想的无限扩展的地面。

屏蔽测试室结合使用无线吸波材料，目的是控制测试室内的环境。屏蔽会创建一个测试空间，减少周围信号和其他外部效应的干扰水平，而无线吸波材料则最小化来自墙壁和天花板的不需要的反射信号，这些反射信号可能会影响测量。

实际上，屏蔽可以很容易地消除高噪声（80dB到140dB）（通常可以忽略周围噪声），没有设计用于吸收所有能量来源的无线吸波材料。例如，如果它不是完美生产并配置，其反射损耗（衡量效率的标准）也会随着频率和入射角度的变化而变化。在某些情况下，它还必须承受来自无线信号的高功率能量的影响。为了提高更宽频率范围内的反射损耗，使用铁氧体砖、铁氧体网和介于泡沫聚氨酯和铁氧体砖之间的混合材料可以满足要求。

地面将产生所需的反射信号，因此接收天线接收到的是直接传输信号和反射信号的总和。对于每一种发射天线（或EUT）和接收天线相对于地面的高度，这两个信号之间的相位差会产生一个唯一的接收水平。

实际上，天线塔必须具有可变高度，以便能够精确选择测试天线的位置，结合旋转台，使得两个信号之间在天线方位角之间，或者在EUT和测试天线之间的总信号强度最大。

绝对测量和相对测量均可在一个完全非反射的房间中进行。测量室必须在进行绝对测量或认可测量之前进行校准。该校准涉及将测量性能与理想理论房间进行比较，接受与否取决于两种类型房间之间最大差异是否不超过预定限制。

B.2.2.4. 完全吸收测量室

完全吸收测量室通常是一个封闭的屏蔽室，其内墙、天花板和地板覆盖有吸波材料层，通常是泡沫聚氨酯锥形材料。通常，该室在一端有一个天线支架，在另一端有一个旋转台。典型的完全吸收测量室如图B.4所示，两端都有双极天线。

 

 

图B.4 - 典型的完全吸收测量室

屏蔽测量室并使用吸波材料可以创建一个易于控制的测量环境。这种类型的测量室试图模拟自由空间条件。屏蔽可以减少周围信号和其他外部效应的干扰，而吸波材料则最小化来自墙壁、地板和天花板的不需要的反射，这些反射可能会影响测量结果。

实际上，屏蔽可以很容易地消除高噪声（80dB到140dB）（通常可以忽略周围噪声），没有设计用于吸收所有能量来源的无线吸波材料。例如，如果它不是完美生产并配置，其反射损耗（衡量效率的标准）也会随着频率和入射角度的变化而变化。在某些情况下，它还必须承受来自无线信号的高功率能量的影响。为了提高更宽频率范围内的反射损耗，使用铁氧体砖、铁氧体网和介于泡沫聚氨酯和铁氧体砖之间的混合材料可以满足要求。

一般来说，完全吸收测量室比其他测量室有许多优点。它较少受到周围噪声的影响，较少从墙壁、天花板和地板反射，并且不受天气影响。然而，它也有一些缺点：测量距离受限（由于测量室的大小、成本等）以及较低频率的使用，因为测量室的尺寸和锥形吸波材料有限制。

绝对测量和相对测量均可在一个完全非反射的房间中进行。测量室必须在进行绝对测量或认可测量之前进行校准。该校准涉及将测量性能与理想理论房间进行比较，接受与否取决于两种类型房间之间最大差异是否不超过预定限制。

典型的完全吸收测量室如图C.5所示。这是为了模拟自由空间条件而建造的测量室。

 

图B.5 - 典型的完全吸收测量室

测量室包含两端的合适天线和支撑设备。

测量天线和EUT悬挂装置必须由低微波损耗和相对介电常数低的材料制成。

完全吸收测量室必须被屏蔽。内部墙、地板和天花板必须用吸波材料覆盖。屏蔽和反射损耗产生垂直于频率的波。在常见的测量频段中：

• 屏蔽损耗为105 dB；
• 反射损耗为30 dB。

相对测量和绝对测量均需在完全吸收测量室内进行。测量室必须在进行绝对测量的地方预先校准。

完全吸收测量室的位置保护位置必须在适用的频段内进行校准和验证。

注1：关于不确定度信息和校准程序的详细描述见标准TR 102 273-2的第5条和第6条。

注2：介绍的测量组合及其程序基于低频带的最佳实践。设置可能需要根据毫米波系统的具体需求进行调整，特别是高于100 GHz的频率。测量结果应明确显示测量组合的设置。介绍的测量组合主要预期用于本规范定义的功率测量。

在1 GHz以上频率的完全吸收测量室中进行测量时，不旋转比较天线的高度，而是移动EUT上的所有表面以测量由于高频率窄角天线模型出现的最大RF辐射功率。⁰ 而不是使用旋转EUT的转台，则需要移动EUT的所有表面以测量由于高频率窄角天线模型出现的最大RF辐射功率。

B.2.2.5. 对于18 GHz以上测量位置的最低要求

一般而言，测量位置必须足够执行EUT远场测量。因此，测量位置必须是无电磁反射的房间，或者至少是地面覆盖有吸波材料，或者最多六个周边面覆盖有吸波材料。吸波材料必须至少降低30 dB的反射。这种反射衰减的效果必须得到验证。测量位置的尺寸如下：

- 宽度2米。

- 长度3米。

- 高度2米（仅适用于多反射面的房间）。

定向接收天线高度可减少反射。建议使用标准增益喇叭天线。注意，如果天线孔径小于EUT，则必须在方位角和仰角上进行足够的测量以确保确定最大辐射。测量距离必须选择以避免天线匹配效应。因此，建议使用至少0.5米的最小距离。EUT可以在任何高度位置放置以尽量减少地面反射。

由于同轴电缆在高频下的损耗较大，从接收天线到测量接收机的连接不得超过1米，因此需要将测量接收机靠近接收天线放置。特别是在使用外部混频器短接至测量接收机的情况下，这一点尤为重要。因此，通过某种方式，测量接收机必须在其测量方向上被吸波材料覆盖以减少反射。图B.6展示了具有一个反射面的18 GHz以上测量位置的一个例子。

 

 

图B.6 - 具有一个反射面的18 GHz以上测量位置示例

测量位置的衰减必须确定。具有相对理想特性的测量位置可以使用自由空间衰减（FSL）理论作为衰减，如表B.1到表B.3中的示例所示。

表B.1 - 自由空间1米距离处的衰减示例

表B.2 - 自由空间0.5米距离的路径损耗示例

表B.3 - 自由空间0.25米距离的路径损耗示例

其中：

λ = c/f

[FSL] = 10 log (4πr/λ)²